Das Waveform Metrology Project bietet Messungen und algorithmische Unterstützung für die Rückverfolgbarkeit von Wellenformen in der Optik- und Hochfrequenzelektronikindustrie. Das NIST war das erste Unternehmen, das die Phasenkalibrierung von Fotodioden mit elektrooptischer Abtastung (EOS) entwickelte und diese Kalibrierung in Wellenformmessungen mit Unsicherheiten abbildete. Das NIST erfindet, entwickelt und liefert weiterhin Werkzeuge für die grundlegende Rückverfolgbarkeit und statistische Analyse von Hochgeschwindigkeitssignalerzeugung und -messung und bietet gleichzeitig Qualitätsmessdienste für interne und externe Kunden des NIST. Diese Bemühungen stützen sich auf drei Hauptbereiche: optische Messtechniken, Wellenformverarbeitung und -analyse sowie Entwicklung und Charakterisierung von physikalischen Geräteartefakten.
Das NIST verwendet das elektrooptische Abtastverfahren (EOS), um die Vektorantwort von Fotodioden zu messen und die Phasenrückverfolgbarkeit für kommerzielle Messgeräte wie Großsignal-Netzwerkanalysatoren, Lichtwellen-Komponentenanalysatoren, Vektorsignalanalysatoren, Oszilloskope, gepulste Laserradiometer und optische Zeitbereichsreflektometer zu gewährleisten. NMIs in Südkorea, China, Deutschland und Großbritannien arbeiten aktiv an der Entwicklung ähnlicher Dienste zur Messung von Wellenformen, so dass es unerlässlich ist, die Ergebnisse des NIST und anderer NMIs durch Vergleiche zu validieren. Zu den laufenden Forschungsarbeiten zu dieser traditionellen EOS-Technik gehört die Erweiterung der Rückführbarkeit über 100 GHz hinaus. …
Quelle: Waveform Metrology Project